掃描電子顯微鏡是一種高分辨率的顯微鏡，可以用來觀察材料的表面形貌、結構和成分等。以下是掃描電鏡對樣品的要求：
　　干燥樣品：樣品要保持干燥，因為SEM需要在真空環(huán)境下工作，任何水分都會蒸發(fā)，破壞樣品。因此，在觀察前，應將樣品干燥或固定在真空環(huán)境中。
　　可導電性：掃描電子顯微鏡SEM需要電子束在樣品表面掃描生成圖像，所以樣品要有良好的導電性，否則電子束會被樣品表面反射，無法進入樣品。對于非導電材料，可以使用金屬化、碳噴鍍、金屬蒸發(fā)和其他提高電導率的方法。
　　尺寸適當：掃描電鏡的分辨率很高，可以觀察到非常小的樣品結構，但樣品大小也需要適中。樣品的尺寸不能太大，否則電子束不能完全覆蓋樣品表面。同時，樣品的尺寸也不能太小，否則可能會在SEM中丟失。
　　光滑表面：掃描電鏡需要掃描樣品表面才能獲得圖像，所以樣品表面要光滑，否則圖像可能會變得模糊或不清晰。對于粗糙的表面，可以使用金屬蒸發(fā)和其他方法鍍上金屬膜，以獲得更好的圖像。
　　無毒性：掃描電鏡需要在真空環(huán)境下工作，樣品要無毒，否則可能對SEM設備和操作人員造成傷害。
　　掃描電子顯微鏡SEM具有很高的分辨率和放大倍數(shù)，可以提供非常詳細的表面形貌信息，在材料科學中得到了廣泛的應用、生物醫(yī)學、納米技術等諸多領域。
　　掃描電鏡的測量結果可能會受到掃描電鏡本身分辨率和測量設備誤差的影響、樣品制備和處理的影響、表面電荷和樣品形貌的影響。此外，掃描電鏡測量需要對樣品進行處理和制備，這可能導致樣品的結構和形貌發(fā)生變化，從而影響測量結果的準確性。
　　因此，在使用SEM進行測量時，要注意樣品制備和處理的質量，選擇合適的SEM參數(shù)，進行多次測量并比較結果，以提高測量的準確性和可靠性。